PCB加工工艺基准 PCB板材选取与高频PCB制板工艺要求
- 发布时间:2025-06-13 15:47:33
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以下为PCB板材选取与高频PCB制板工艺要求的专项技术指南,结合高频应用的特殊性及行业标准(IPC-6018、IPC-4103)整理:
一、高频PCB板材选取标准
1. 核心参数要求
参数 | 普通FR-4 | 高频板材(e.g. Rogers/Isola) | 关键影响 |
---|---|---|---|
介电常数 (Dk) | 4.2~4.8 | 2.5~3.8(±0.05公差) | 信号传输速度、阻抗稳定性 |
损耗因子 (Df) | 0.018~0.025 | ≤0.004(@10GHz) | 高频信号衰减 |
TG值 | ≥135℃ | ≥180℃ | 高温可靠性(无铅焊接) |
CTE | 14~18 ppm/℃ | 12~16 ppm/℃ (Z轴) | 热膨胀导致孔金属化断裂风险 |
2. 常用高频板材类型
材料型号 | Dk@10GHz | Df@10GHz | 适用频段 |
---|---|---|---|
Rogers RO4350B | 3.48±0.05 | 0.0037 | 6GHz以下(5G基站) |
Taconic RF-35 | 3.5±0.05 | 0.0018 | 毫米波雷达 |
Isola I-Tera MT40 | 3.45±0.05 | 0.0031 | 高速背板 |
PTFE(聚四氟乙烯) | 2.1~2.55 | 0.0009 | 77GHz汽车雷达 |
选材原则:
频率>3GHz时,Df需<0.005
多层板混合压合时,需匹配Dk和CTE(如:Rogers芯板+FR-4半固化片)
二、高频PCB制板核心工艺要求
1. 图形转移控制
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线宽/线距精度
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公差≤±8%(设计值<0.1mm时)
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边缘粗糙度(Ra)<1μm(减少集肤效应损耗)
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阻抗控制
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单端阻抗:±5Ω公差(普通板为±10Ω)
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差分阻抗:±8Ω公差(需提供3D场求解器模型给板厂)
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2. 层压工艺
参数 | 要求 |
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压合温度 | 低于板材TG值15~20℃(防材料降解) |
压力均匀性 | 全板偏差≤7% |
层间对准精度 | ≤50μm(L1-Ln层偏) |
3. 钻孔与孔金属化
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激光钻孔(HDI)
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微孔孔径:0.1mm±0.02mm
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孔位精度:±25μm
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孔铜厚度
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高频通孔:≥25μm(IPC Class 3)
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铜壁均匀性:>85%(避免阻抗突变)
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4. 表面处理选择
工艺 | 适用性 | 风险提示 |
---|---|---|
ENIG | 最佳(焊盘平整度±0.2μm) | 避免“黑焊盘”问题(Ni层腐蚀) |
沉银 | 高频信号(趋肤深度0.7μm) | 易氧化(存储期≤3个月) |
OSP | 不推荐(增加接触电阻) | —— |
三、特殊工艺管控点
1. 介质层厚度一致性
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芯板厚度公差:±5%(常规板为±10%)
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PP半固化片:选用低流胶型号(如1080玻璃布)
2. 阻焊影响控制
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油墨介电常数:Dk≤3.5(避免使用高Dk油墨)
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开窗精度:阻焊桥≥0.075mm(防止桥连)
3. 信号完整性保障
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背钻(Stub控制):
残桩长度 ≤ (信号波长/20)
(例:10GHz信号→残桩≤0.75mm) -
铜箔粗糙度:
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超低轮廓铜(HVLP):Ra≤1.5μm
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标准铜箔(STD):Ra≥3μm(避免>5GHz应用)
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四、可靠性验证项目
测试项 | 高频板标准 | 普通板标准 |
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热应力测试 | 288℃, 10s×5次(无分层) | 288℃, 10s×3次 |
TCD测试 | -55℃~125℃, 1000次循环 | 500次循环 |
高频损耗测试 | 矢量网络分析仪(VNA)测S参数 | —— |
离子污染 | ≤0.75μg/cm² NaCl当量 | ≤1.56μg/cm² |
关键设计协同建议:
提供完整的叠层阻抗模型(含材料Dk/Df实测值)
标注临界走线(>3GHz)并做隔离设计(3W规则)
射频端口建议采用接地共面波导(GCPW)结构
此工艺基准需与板厂深度协同,高频板建议选择具备射频产线认证(如华为/爱立信AVL) 的供应商。
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